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涡流测厚仪

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  • 型号:BXS10-ED400
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详细介绍
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  • 技术参数

    涡流测厚仪  绝缘性覆盖层测厚仪  阳极氧化膜测厚仪

    型号:BXS10-ED400

    ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。
        仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。

    仪器特点
           ED400型与ED300型相比,具有如下特点:
    量程宽   ED400型量程达到0500μm
    精度高  测量精度达到2%
    分辨率高   分辨率达到0.1μm
    校正简便   只校正“0”“50μm”两点,即可在全量程范围内保证设计精度。
    基体导电率影响小   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时,测量误差不大于12μm
    可靠性提高  采用高集成度、高稳定性电子器件,电路结构优化,仪器可靠性提高。
    稳定性提高   采用*的温度补偿技术,测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。
    探头芯寿命长   采用高强度磁芯材料,微调了探头设计,探头芯寿命可大大延长。
    探头可互换  外接式探头,探头损坏后,使用者可自行更换备用探头。仪器无需返厂维修。

    技术参数:

    测量范围:     0500μm
    测量精度:     050μm±1μm
                        50500μm±2%
    率:      050μm0.1μm
                        50500μm1μm
                        0500μm1μm(可选)
    使用温度:     545
    外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
          量:     280g

     

    标准配置

    主机            
    探头            
    基体(6063铝合金)
    校正箔片   一套4片(附检测报告)
    仪器箱

    可选附件

    备用探头
    基体
    校正箔片(附检测报告)

     

    电 话:/
    联 系:梁       

    网 址:www.lcs168.com

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